接觸不良時(shí)，同樣跳欠電壓（或直流回路電壓低）的故障。見下述實(shí)例。
[故障實(shí)例2]一臺東元7300MA型37KW變頻器，運(yùn)行中隨機(jī)性跳“直流回路電壓低”故障，有時(shí)一天數(shù)次跳故障，有時(shí)能連續(xù)運(yùn)行好幾天。故障再現(xiàn)時(shí)，為變頻器重新上電，則又能正常運(yùn)行段時(shí)間。用戶工作現(xiàn)場電壓的供電電壓很穩(wěn)定，沒有什么問題，同時(shí)使用的其它數(shù)臺變頻器，和同型號變頻器，都沒有這種問題。 送維修部后，變頻器上電后，聽得“哐當(dāng)”一聲響，充電接觸器閉合了，空載或輕載時(shí)，連續(xù)運(yùn)行三天，未跳直流回路電壓低故障。用三相調(diào)壓器調(diào)節(jié)輸入電壓，同時(shí)監(jiān)控操作顯示面板顯示的直流回路電壓值，與輸入電壓成成比例變化，并且在較大范圍內(nèi)，變頻器都不報(bào)出故障，說明檢測電路沒有問題。 重點(diǎn)又檢查了直流回路的儲能電容，其容量與標(biāo)稱值沒有大的出入，該機(jī)器使用年限不長，儲能電容又是選用優(yōu)質(zhì)元件，應(yīng)該是沒有問題的。 反復(fù)上電幾次，都能聽到充電接觸器的吸合聲，說明充電接觸器的控制電路也是好的。是什么原因?qū)е铝酥绷骰芈冯妷旱湍兀?/span> 進(jìn)一步聯(lián)想到：充電接觸器雖然吸合，但主觸點(diǎn)閉合情況，卻只有將接觸器拆卸后，才能觀察到。拆開接觸器后，發(fā)現(xiàn)三對主觸點(diǎn)燒灼嚴(yán)重，同時(shí)發(fā)現(xiàn)三相逆變模塊大多換新，該機(jī)器已經(jīng)維修過。也許是模塊炸毀時(shí)，使充電接觸器的主觸點(diǎn)同時(shí)受損。 接觸器為電磁開關(guān)，其閉合與釋放是電磁作用與機(jī)械部件相配合所完成的。當(dāng)接觸器主觸點(diǎn)燒灼變形，或由于使用年限過長，產(chǎn)生機(jī)械形變或機(jī)械老化時(shí)，會產(chǎn)生機(jī)械動作受阻從而產(chǎn)生吸合不到位，造成主觸點(diǎn)接觸不良的現(xiàn)象。 該例故障，因觸點(diǎn)燒灼，產(chǎn)生接觸電阻，運(yùn)行中產(chǎn)生打火現(xiàn)象，觸點(diǎn)的接觸情況產(chǎn)生隨機(jī)性惡化，則直流回路電壓有隨機(jī)性跌落現(xiàn)象，導(dǎo)致欠電壓報(bào)警。而停電后再閉合，則改善了接觸器觸點(diǎn)接觸狀況，變頻器又能運(yùn)行一段時(shí)間。接觸器產(chǎn)生機(jī)械形變后，也有此種現(xiàn)象，以至有的電工得出了這種一種經(jīng)驗(yàn)，跳欠電壓故障時(shí)，或?yàn)樽冾l器反復(fù)上電幾次，或震動變頻器幾次后，變頻器又“神經(jīng)質(zhì)”地“好”了。 換用優(yōu)質(zhì)接觸器后，故障排除。 該例故障，有“耳聽為虛，眼見為實(shí)”的檢修特點(diǎn)，聽聲音接觸器是閉合了，但主觸點(diǎn)的閉合狀態(tài)，只有眼見才能更好地確定。
三、晶體管老化失效所表現(xiàn)的故障現(xiàn)象及檢修思路： 晶體管器件的老化和失效故障，更為隱蔽，其表現(xiàn)出的故障現(xiàn)象也更加難以琢磨，比之檢修電容器、接觸器等元件，又上升了一個(gè)難度上的等到級。下文以檢修開關(guān)電源的兩個(gè)故障實(shí)例，來說明對晶體管老化故障的檢修。這兩例故障，一例為輸出電壓偏高，一例為輸出電壓偏低，但故障元件都是隱蔽得很，饒有趣味啊。
[故障實(shí)例3]該機(jī)器為東元7200PA型37KW變頻器，故障現(xiàn)象為：運(yùn)行當(dāng)中出現(xiàn)隨機(jī)停機(jī)現(xiàn)象，可能幾天停機(jī)一次，也可能幾個(gè)小時(shí)停機(jī)一次；起動困難，起動過程中電容充電接觸器噠噠跳動，起動失敗，但操作面板不顯示故障代碼。費(fèi)些力氣起動成功后又能運(yùn)轉(zhuǎn)一段時(shí)間。將控制板從現(xiàn)場拆回，將熱繼電器的端子短接，以防進(jìn)入熱保護(hù)狀態(tài)不能試機(jī)；將充電接觸器的觸點(diǎn)檢測端子短接以防進(jìn)入低電壓保護(hù)狀態(tài)不能試機(jī)，進(jìn)行全面檢修，檢查不出什么異常，都是好的呀。又將控制板裝回機(jī)器，上電試機(jī)，起動時(shí)充電接觸器噠噠跳動，不能起動。拔掉12CN插頭散熱風(fēng)扇的連線，為開關(guān)電源減輕負(fù)載后，情況大為好轉(zhuǎn)，起動成功率上升。仔細(xì)觀察，起動過程中顯示面板的顯示亮度有所降低，判斷故障為開關(guān)電源帶負(fù)載能力差。拆下電源/驅(qū)動板，從機(jī)外送入直流500V維修電源，單獨(dú)檢修開關(guān)電源電路。本機(jī)開關(guān)電源電路為單端正激式隔離型開關(guān)穩(wěn)壓電源。電路由分立元件組成，故障率較低。由開關(guān)管和分流控制管構(gòu)成振蕩和穩(wěn)壓電路的主干，外圍電路極其簡潔。拆下電源/驅(qū)動板，從機(jī)外送入直流500V直流維修電源，單獨(dú)檢修開關(guān)電源電路。開關(guān)電源的次級繞組及后續(xù)整流濾波電路，各路電源輸出空載時(shí)，輸出電壓為正常值。將各路電源輸出加接電阻性負(fù)載（如50歐5W電阻），電壓值略有降低；+24V接入散熱風(fēng)扇和繼電器負(fù)載后，+5V降為+4.7V，此時(shí)屏顯及其它操作均正常。但若使變頻器進(jìn)入啟動狀態(tài)，則出現(xiàn)繼電器噠噠跳動，間或出現(xiàn)“直流電壓低”、“CPU與操作面板通訊中斷”等故障代碼，使操作失敗。測量中，當(dāng)+5V降為+4.5V以下時(shí)，則變頻器馬上會從啟動狀態(tài)變?yōu)榇龣C(jī)狀態(tài)。詳查各電源負(fù)載電路，均無異常。分析：控制電源帶負(fù)載能力差的判斷是正確的。由于CPU對電源的要求比較苛刻，不低于4.7V時(shí)，尚能勉強(qiáng)工作；但當(dāng)?shù)陀?.5V時(shí)，則被強(qiáng)制進(jìn)入“待機(jī)狀態(tài)”；在4.7V到4.5V之間時(shí)，則檢測電路工作，CPU發(fā)出故障報(bào)警。意想不到的是此故障的檢修竟然相當(dāng)棘手，遍查開關(guān)電源的相關(guān)元器件竟“無一損壞”！無奈之下，試將U1（KA431AZ）的基準(zhǔn)電壓分壓電阻之一的R1（5101）并聯(lián)電阻試驗(yàn)，其目的是改變分壓值而使輸出電壓上升。測輸出電壓略有上升，但帶載能力仍差。該機(jī)的開關(guān)管Q2為高反壓和高放大倍數(shù)的雙極型三極管（NPN功率管），型號為QM5HLL-24；Q1為分流控制管，電路對這兩只管子的參數(shù)有較嚴(yán)格的要求，市場上較難購到。再結(jié)合故障現(xiàn)象分析，可能為開關(guān)管Q2低效，如β值降低，使TC2儲能下降，電路帶載能力變差；也可能為Q1的工作偏移，對Q2基極電流分流能力過強(qiáng)，使電源帶載能力變差。但手頭無原型號開關(guān)管，用戶催修甚急。試調(diào)整電路，將分流調(diào)整管的工作點(diǎn)下調(diào)，使之降低對Q2基極電流的分流作用，進(jìn)而提升開關(guān)管Q2的導(dǎo)通能力，使TC2儲能增加。試將與電壓反饋光耦串接的電阻R6（330歐）串聯(lián)47歐電阻，以減小Q1的基極電流，進(jìn)而降低其對Q2的分流能力，使電源的帶載能力有所增強(qiáng)。上電試機(jī)，無論加載或啟動操作，+5V均穩(wěn)定輸出5V，故障排除（此故障排除是采取了權(quán)宜之計(jì)，應(yīng)急修復(fù)的措施，并未查出和更換故障元件，對故障進(jìn)行根治）！故障推斷：1、開關(guān)管Q2有老化現(xiàn)象，放大能力下降，IC值偏低，開關(guān)變壓器儲能變小，而使電源帶載能力變差；2、分流支路有特性偏移現(xiàn)象，使分流過大，開關(guān)管得不到良好驅(qū)動，從而使電源帶載能力差。第一種原因可能性大。附記：以后該臺變頻器又因模塊損壞故障送修，手頭有QM5HLL-24管子，故換掉開關(guān)管Q2，將串接47Ω電阻解除，恢復(fù)原電路后，開關(guān)電源工作正常。說明該機(jī)器開關(guān)電源電路帶載能力差的故障原因，確系Q2開關(guān)管低效所致。
[故障實(shí)例4]一臺多年使用的變頻器，在逆變模塊損壞并修復(fù)后，為變頻上電，測CPU板+5V供電，約為6V，測控制回路的+15V供水，高達(dá)近20V。輸出電壓明顯偏高，但輸出電壓值較為穩(wěn)定。懷疑是萬用表測量誤差（如數(shù)字萬用表內(nèi)部9V電源能量不足造成的測量誤差），換用另一塊萬用表檢測，還是如此。說明開關(guān)電源存在故障，未敢給CPU主板供電，摘下電源/驅(qū)動板，單獨(dú)檢修，為保險(xiǎn)起見，出切斷了驅(qū)動IC的四路供電，等輸出電壓值正常后再連接負(fù)載電路。該例故障，輸出電壓尚能穩(wěn)定，說明穩(wěn)壓電路還是起作用的，穩(wěn)壓環(huán)節(jié)還是“透氣”的。試將TL431基準(zhǔn)電路的VREF端子的上分壓電阻減小，或想辦法加大反饋光耦的輸入側(cè)電流，檢測各路輸出電壓略有下降，也說明穩(wěn)壓環(huán)節(jié)還是能對輸出電壓作出反應(yīng)和起了調(diào)節(jié)作用的。但感覺電壓的下降量極小，電路能對輸出電壓作出反應(yīng)，但反應(yīng)的靈敏度降低。把穩(wěn)壓環(huán)節(jié)看成一個(gè)誤差放大器的話，是這個(gè)放大器的放大倍數(shù)明顯不夠了啊。該電路也是由兩只分立晶體管構(gòu)成的振蕩和穩(wěn)壓電路，穩(wěn)壓的所有控制，最后都落實(shí)到開關(guān)管基極電流的控制上，一是開關(guān)管的驅(qū)動電流過大，二是分流管的IC電流過小，對開關(guān)管IB電流的分流能力不足。挑選一只放大倍數(shù)高的分流管對原管進(jìn)行代換，又檢查了穩(wěn)壓電路的所有環(huán)節(jié)，未查出變值和不良元件，單獨(dú)拆下TL431，作了穩(wěn)壓性能試驗(yàn)，沒有問題。檢修陷入了僵局。將電路板放置了幾天，沒有管它，但腦子里有時(shí)還在轉(zhuǎn)悠著這個(gè)事。將疑點(diǎn)放在了光電耦合器PC817的身上！TL431與PC817相配合，將輸出電壓的變化隔離和反饋至一次振蕩電路。PC817內(nèi)含發(fā)光二極管一只和光敏三極管一只，長期工作后，發(fā)光二極管的發(fā)光效率變低，光敏三極管受光量減小，導(dǎo)通內(nèi)阻變大，相當(dāng)于誤差放大器的放大信倍變低了。另外，也不排除光敏三極管老化、低效、放大倍數(shù)降低等等的可能，二者中的其一不良，便導(dǎo)致穩(wěn)壓控制能力減弱，輸出電壓升高。但光耦器件的在線測量，只能測出輸入側(cè)發(fā)光二極管的正反向電阻或電壓降，其它指標(biāo)則無能為力。將光耦拆除，換用一只優(yōu)質(zhì)元件，開機(jī)，測各路輸出電路，嘩！全部正常和穩(wěn)定了！可以總結(jié)一點(diǎn)：電解電容因工藝和材質(zhì)的特點(diǎn)，性能容易漸變和低效，但這種電容的漸變和低效，還是容易引起注意的。其它元件，電阻一般是較為穩(wěn)壓的。 那么還容易漸變和低效的原件，應(yīng)該首屬晶體管了。早期的電子電路維修工作者，針對性的分立元件的晶體管，維修工作中對管子放大倍數(shù)的檢測，成為常規(guī)手段之一。以后，隨著IC電路的出現(xiàn)，隨著IC工作可靠性的提高，往往忽略了對IC內(nèi)容晶體管的漸變和低效的問題。PC817也可以稱之為IC電路，內(nèi)部集成了發(fā)光管和三極管，其它被廣泛應(yīng)用的模擬IC和數(shù)字IC，內(nèi)部內(nèi)部也是由晶體管所集成，總會有晶體管漸變和低效的可能。在長期的維修中，我也碰到數(shù)例這種情況。這種情況，單純測試IC的引腳電阻，很難察覺到什么異常。而上電進(jìn)行動態(tài)電壓檢測，往往有效。遇有疑難故障，多注意晶體管的漸變和低效，注意IC內(nèi)部晶體管的漸變、低效、失效！
四、漸變、低效元件難于檢測的原因和檢測方法的問題：此類漸變和低效元件的難于檢測，主要由兩個(gè)原因造成：
1、檢測工具的局限。最常用檢測工具為數(shù)字和指針式萬用表，高電壓和大電流，不能由萬用表提供，對有些器件，如直流回路的儲能電容電級引線電阻的出現(xiàn)，須在高電壓和大電流的狀態(tài)下進(jìn)行檢測，才能得出結(jié)論。電容表和萬用表確實(shí)對此無能為力。
2、檢測方法的問題。檢測元器件，往往進(jìn)行單一性的檢測，如僅僅檢測元件引腳電阻，或僅僅檢測在線電壓；或習(xí)慣用一只表檢測其好壞。應(yīng)該拓展檢測手段和檢測方法。如對逆變模塊和高耐壓元件的檢測，可利用耐壓測試儀或借用絕緣搖表，對元件進(jìn)行電壓擊穿測試。如檢測光耦器件，可從線路板上拆下，用一只指針式萬用表的X10K擋測試輸入側(cè)正向電阻（同時(shí)提供正向?qū)娏鳎靡恢蝗f用表，同時(shí)測試輸出側(cè)三極管的導(dǎo)通電阻，將測試結(jié)果與好的同型號光耦器件相對照，則不難檢測出低效元件。或者干脆用外加電源，為光耦送入輸入10MA電流，對比測試其輸出電阻，則更易得出正確的判斷。
總之，要采用靈活多樣的測試手段和檢測方法，強(qiáng)化自己的檢測能力和提高檢測的準(zhǔn)確度，使“偽好元件”暴露出來。要練好你的“內(nèi)功”?。?/span>
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